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技術(shù)支持

殘余應(yīng)力測(cè)定儀的基本原理
更新時(shí)間:2017-12-19   點(diǎn)擊次數(shù):2487次
 殘余應(yīng)力測(cè)定儀的基本原理:  
    殘余應(yīng)力測(cè)定儀的基本原理是以測(cè)量衍射線位移作為原始數(shù)據(jù),所測(cè)得的結(jié)果實(shí)際上是殘余應(yīng)變,而殘余應(yīng)力是通過胡克定律由殘余應(yīng)變計(jì)算得到的。  
    其基本原理是:當(dāng)試樣中存在殘余應(yīng)力時(shí),晶面間距將發(fā)生變化,發(fā)生布拉格衍射時(shí),產(chǎn)生的衍射峰也將隨之移動(dòng),而且移動(dòng)距離的大小與應(yīng)力大小相關(guān)。用波長(zhǎng)λ的X射線,先后數(shù)次以不同的入射角照射到試樣上,測(cè)出相應(yīng)的衍射角2θ,求出2θ對(duì)sin2ψ的斜率M,便可算出應(yīng)力σψ。  
    X射線衍射方法主要是測(cè)試沿試樣表面某一方向上的內(nèi)應(yīng)力σφ。為此需利用彈性力學(xué)理論求出σφ的表達(dá)式。由于X射線對(duì)試樣的穿入能力有限,只能探測(cè)試樣的表層應(yīng)力,這種表層應(yīng)力分布可視為二維應(yīng)力狀態(tài),其垂直試樣的主應(yīng)力σ3≈0(該方向的主應(yīng)變ε3≠0)。

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